与传统的粒度检测技术相比，EBSD技术通过检测WC晶粒的取向，实现对WC粉末晶粒度及粒度分布的统计。EBSD技术的应用包括但不限于：

• 统计不同规格WC粉末的平均晶粒度。

• 分析晶粒度的分布情况。

直观性：EBSD取向图中不同的颜色代表不同晶粒的取向，颜色差异越小表示晶粒间的取向关系越接近。

细节揭示：EBSD剖面图揭示WC颗粒由多个晶粒构成，而非单一晶体。

晶界分析：EBSD晶界图清晰显示WC硬质相和晶界，有助于从团粒中甄别出单个晶粒。

• 激光粒度分析

• X射线衍射（XRD）

• 扫描电镜法（SEM）

• 费氏粒度法（Fsss）

• 氮吸附法（BET）

EBSD与激光粒度法：EBSD得到的粒度结果更细，因为它测量的是WC的“晶粒度”，而激光粒度法可能包括单晶、多晶和团粒。

EBSD与XRD：EBSD与XRD结果一致，但EBSD能提供晶粒度分布的检测，并且结果可视化，补充了XRD的不足。

EBSD与SEM：EBSD技术能从WC颗粒中分辨出单晶粒，提供更客观真实的检测结果，并实现结果的可视化。

EBSD技术为WC粉末的晶粒度分析提供了一种高效、精确且直观的方法。它不仅能测量平均晶粒度，还能分析晶粒度分布，为材料科学和工程领域提供了宝贵的数据支持。通过EBSD技术，研究人员能够深入理解WC粉末的微观结构，优化材料的性能和应用。