失效现象剖析
硅胶具有吸水透气的物理特性,易使导电银胶受潮,水分子侵入后在含银导体表面电解形成氢离子和氢氧根离子,银胶中的银在直流电场及氢氧根离子的作用下被离子化后产生正价银离子。
硅胶封装、银胶粘结的垂直倒装芯片漏电失效分析图
规避方法
针对LED领域,金鉴实验室提供包括芯片漏电失效分析等一站式服务,涵盖各个环节,满足客户多元化的需求。众所周知,Ag迁移产生的条件是存在湿气和施加直流电压,则导体电极材料中Ag可能被离子化,并从固晶区域经介质迁移到有源区侧面甚至上部电极附近,并最终导致芯片漏电或短路失效。
1、LED封装厂慎用硅胶封装、银胶粘结垂直倒装芯片的灯珠结构。可选用金锡共晶的焊接方式将芯片固定在支架上,金锡合金比较稳定,不易发生离子迁移。
2、潮湿是引发离子迁移故障的重要诱因,采用此类灯珠的灯具应有防水特性。
案例实证分析
银离子迁移现象是在产品使用过程中逐渐形成的,随着迁移现象的加重,最终银离子会导通芯片P-N结,造成芯片侧面存在低电阻通路,导致芯片出现漏电流异常,严重情况下甚至造成芯片短路。


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