AEC-Q101-2021标准是汽车电子领域的一个关键参考文件，它为电子器件在汽车环境中的性能和可靠性设定了最低的测试标准。该标准不仅定义了器件必须通过的基本认证条件，还提供了详尽的测试项目和测试条件，以确保器件能够在汽车应用中承受预期的应力。

核心目标是确保电子器件能够通过一系列严格的测试，测试包括：高温高湿应力测试（HAST）、超高温高湿应力测试（UHAST）、加速条件下的电导性测试（AC）、高温逆偏测试（H3TRB）。

这些测试项目旨在模拟汽车电子器件可能遇到的各种极端环境，从而验证其在实际使用中的可靠性和耐久性。

HAST（高加速温度和湿度测试）是一项专门用来评定非密封电子器件在湿润环境中的可靠性的测试。这项测试通过在严苛的温度、湿度和电压偏置条件下进行，以加速水分穿透封装材料或沿着封装材料与金属导体界面的渗透过程，从而快速识别器件的潜在弱点。

UHAST（无偏置高加速温度和湿度测试）则是HAST的一个变体，它在测试过程中不施加电压偏置。这种测试设计用于揭示那些可能在电压偏置条件下不易被察觉的失效模式，例如电偶腐蚀等，确保了测试结果能够更全面地反映器件在实际应用中可能遇到的各种失效情况。

通过这两种测试，制造商可以更准确地评估和改进电子器件的封装技术，提高其在汽车、工业设备等湿润环境中的长期稳定性和可靠性。

1.应力激发与“85/85”稳态湿度寿命试验(JESD22-A101)有相同的失效机理。

2.对于在24小时或更短的时间内达到吸收平衡的器件，HAST试验相当于在85ºC/85%RH下至少达到1000小时。

试验箱可以连续保持规定的温度和相对湿度或压力，同时在规定的偏置下为被测器件提供电气连接</svg>");">（如需要），并保存试验周期的相关曲线记录，以验证应力状况，试验箱用水应使用室温下最小电阻率为1 MΩ∙cm的去离子水。

UHAST/AC无需加偏压，HAST/H3TRB需要加偏压，加偏压分为持续加压和循环加偏压。

1.持续通电加偏压：如果偏置当Tj温度高于环境温度≤10ºC并且器件的散热小于200 mW时，采用直流偏置连续加偏压。

2.循环加偏压：在被测器件上加直流电压，频率要合适，占空比要周期。若偏置配置造成Tj温度比环境温度高10oC以上，则使用循环偏压时，由于功耗加热容易使水降低而妨碍水有关失效机制。对对于大多数塑料封装的微电路，用50%的占空比循环DUT偏置是最佳的。≥2 mm厚的封装的循环应力周期应为≤2小时，

1.H3TRB上升达到稳定的温度和相对湿度条件的时间应小于3小时，要保证设备的温度一直处于露点温度以上，时刻避免应力作用下设备表面的凝结。实验完成后降至常温的过程要小于3个小时，保证应力作用下器件表面不会冷凝。

2.HAST/UHAST/AC在上升的第一部分降至轻微正压（湿球温度约为104ºC）应足够长但应少于3小时，应确保设备温度始终在露点温度之上，并始终避免在应力作用下使其表面凝结。试验结束后下降到常温过程应在3小时以内，以确保在应力条件下装置表面不凝结。

试验前后都要检测外观和电气参数，电气测试应在恢复常温后的48小时内进行。对于试验中间要检查电气参数，应在恢复常温后尽快测试，然后再放入箱内试验，最长不的超过96小时。